電子產(chǎn)品的靜電損壞可能產(chǎn)生于生產(chǎn)、裝配、封裝、運輸、組裝和測試各個環(huán)節(jié)。為了模擬電子產(chǎn)品在不同環(huán)境中的不同靜電放電方式，為了完整地評估電子產(chǎn)品對靜電放電的敏感度，國內(nèi)外各大組織機構(gòu)已構(gòu)建了相應的靜電放電模式和測試標準。深圳EMC測試認證公司 天海檢測為您解析關(guān)于ESD靜電檢測到底是測試什么。

ESD靜電檢測是測試什么？

靜電放電產(chǎn)生原因以及對產(chǎn)品電路等破壞方式的不同，國內(nèi)外已形成一套靜電放電測試標準，其目的是建立可重復的測試方法來提供可靠且準確的結(jié)果，判別芯片對靜電放電的敏感等級，并可用來重現(xiàn)靜電放電造成的故障。靜電測試可以分為產(chǎn)品通過型測試和樣品研究型測試兩類。

1、產(chǎn)品通過型ESD靜電檢測

產(chǎn)品通過型ESD靜電檢測包括人體模型（Human BodyModel, HBM）、機器模型（Machine Model, MM）、元件充電模型（ChargedDevice Model, CDM）等器件級測試，IEC國際電工委員會IEC 61000-4-2標準定義的接觸放電和空氣放電系統(tǒng)級測試。器件級HBM、MM、CDM測試的目的都是保證IC在制造過程中不受損壞，而IEC 61000-4-2規(guī)定的系統(tǒng)級測試則用于模擬現(xiàn)實世界中的終端用戶ESD事件，衡量終端用戶電子產(chǎn)品的ESD性能。

2、樣品研究型ESD靜電測試

雖然產(chǎn)品通過型測試可以獲得ESD防護器件的失效閾值，但是不能給出幫助分析ESD防護器件失效原理的詳細數(shù)據(jù)。ESD防護器件設(shè)計的關(guān)鍵是對其失效原理的正確分析，傳輸線脈沖（Transmission Line Pulse，TLP）測試技術(shù)可以獲得器件的關(guān)鍵性能參數(shù)，包括ESD器件的觸發(fā)點、維持點和失效點的電流、電壓，以便在生產(chǎn)制造過程中調(diào)整相關(guān)設(shè)計，從根本上提高產(chǎn)品的ESD防護能力，保證良率。同時，由于直流特性在大電流時有嚴重的自熱效應，并不能表征ESD事情發(fā)生時的瞬態(tài)特性，所以TLP測試就變得十分必要了。TLP測試就是研究型測試，與直流IV測試相比它屬于準靜態(tài)測試，其測試原理如圖5所示。

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