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集成電路產(chǎn)品做EMC測(cè)試有哪些內(nèi)容

來(lái)源： | 發(fā)布日期：2021-08-06
集成電路產(chǎn)業(yè)是我國(guó)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的一個(gè)重要部分，它帶動(dòng)了其它產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，集成電路已成為各個(gè)行業(yè)中電子、機(jī)電設(shè)備智能化的核心，起著十分重要的作用。今天來(lái)了解一下集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試項(xiàng)目具體是哪些？

集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì)，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性，滿足各類(lèi)集成電路模塊、各類(lèi)存儲(chǔ)芯片、各類(lèi)電源管理芯片、各類(lèi)接口芯片、各類(lèi)時(shí)鐘芯片以及運(yùn)放等。

EMC測(cè)試

集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試項(xiàng)目有：EMI類(lèi)、EMS類(lèi)。

EMI類(lèi)：依據(jù)IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn)；
TEM小室法—輻射發(fā)射測(cè)試；
表面掃描法—輻射發(fā)射測(cè)試；
1Ω/150Ω直接耦合法—傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試；

EMS類(lèi)（頻域）：依據(jù)IEC62132系列與IEC 62215系列標(biāo)準(zhǔn)；
TEM小室法—輻射敏感度測(cè)試；
大電流注入法—傳導(dǎo)敏感度測(cè)試；
直接功率注入法—傳導(dǎo)敏感度測(cè)試；
電快速脈沖群（EFT）注入法—傳導(dǎo)敏感度測(cè)試；
靜電放電（ESD）注入法—傳導(dǎo)敏感度測(cè)試；

TEM小室法—輻射發(fā)射測(cè)試的測(cè)試目的：在150kHz~1GHz內(nèi)測(cè)試IC輻射發(fā)射。適用于封裝/片內(nèi)去耦/引腳分布等的優(yōu)劣判別，測(cè)試要滿足以下條件。

集成電路產(chǎn)品做EMC測(cè)試的內(nèi)容就如上文所述，想了解更多集成電路產(chǎn)品做EMC測(cè)試的項(xiàng)目，EMC測(cè)試的費(fèi)用等資訊，請(qǐng)關(guān)注深圳天海檢測(cè)，我們擁有獨(dú)立的EMC實(shí)驗(yàn)室，可以快速的解決您電子產(chǎn)品的EMC問(wèn)題，也可提供EMC場(chǎng)地租借。歡迎來(lái)天海檢測(cè)做檢測(cè)認(rèn)證。

【本文標(biāo)簽】 EMC、EMC測(cè)試、

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